İstanbul Çekmeköy’de Yükseköğretim Kurumları Sınavı’nın ikinci oturumu olan Alan Yeterlilik Testi sırasında yapay zeka uygulamasıyla kopya çektiği belirlenen şüpheli tutuklandı.
Edinilen bilgiye göre, 21 Haziran’da Çekmeköy’deki bir okulda AYT’ye giren M.E.K’nin cep telefonunu kıyafetinin içine gizleyerek sınav salonuna girdiği belirlendi.
SORULARI FOTOĞRAFLAYIP YAPAY ZEKAYA ÇÖZDÜRDÜ
Şüphelinin sınav sırasında bazı soruların fotoğrafını çekerek yapay zeka uygulamasına gönderdiği ve soruları bu yolla çözdürdüğü tespit edildi.
M.E.K, sınav süresinin bitmesinin ardından salondan çıkmak istediği sırada görevliler tarafından durduruldu.
Yapılan üst aramasında cep telefonu ele geçirilen şüpheli, okulda görevli polis ekipleri tarafından gözaltına alındı.
“BİR ANLIK GAFLETE DÜŞTÜM”
Emniyette ifade veren M.E.K, sınava tek başına geldiğini ve telefonunu emanet bırakabileceği bir yer bulamadığını söyledi.
Şüpheli, cep telefonunun internetini kapatıp, sessize ve rahatsız etme moduna aldıktan sonra şortunun içine koyarak sınav salonuna girdiğini belirtti.
Sınav salonunda iki görevli olması nedeniyle telefonunu daha fazla kullanmaya çekindiğini söyleyen M.E.K, ifadesinde, “Sınava girerken telefonu yanımda götürme amacım kesinlikle kopya çekmek değildi ancak sınav esnasında bir anlık gaflete düşerek böyle bir girişimim oldu. Sınav salonuna cep telefonuyla girdiğim için ve soruların fotoğraflarını çektiğim için pişmanım” dedi.
ŞÜPHELİ TUTUKLANDI
Emniyetteki işlemlerinin ardından adliyeye sevk edilen M.E.K, çıkarıldığı nöbetçi sulh ceza hakimliğince tutuklandı.
Şüphelinin, “Ölçme, Seçme ve Yerleştirme Merkezi Başkanlığının Teşkilat ve Görevleri Hakkında Kanunu’na muhalefet” suçundan tutuklandığı öğrenildi.